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    ADVANCES IN IMAGING AND ELECTRON PHYSICS - VOL. 174

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    Ficha Técnica

    Especificações

    ISBN9780123942982
    SubtítuloSILICON-BASED MILLIMETRE-WAVE TECHNOLOGY
    Pré vendaNão
    Peso540g
    Autor para link
    Livro disponível - pronta entregaNão
    Dimensões23 x 16 x 1
    IdiomaInglês
    Tipo itemLIVRO IMPORTADO ADQ MERC INTERNO
    Número de páginas484
    Número da edição1ª EDIÇÃO - 2012
    Código Interno789637
    Código de barras9780123942982
    AcabamentoHARDCOVER
    AutorELSEVIER
    EditoraACADEMIC PRESS
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